4.7
Història 
Agenda 
Inici 
Detalls del llibre
In the decade since the publication of the second edition of Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis, there has been a great expansion in the capabilities of the basic scanning electron microscope (SEM) and the x-ray spectrometers.
Llegir més - Autors Joseph Goldstein, Dale E. Newbury, David Joyce, Charles E. Lyman, Patrick Echlin, Eric Lifshin, Linda Sawyer, ALEX MALEEV/DAVID AJA/MICHAEL LARK/JAMIE
- ISBN13 9780306472923
- ISBN10 0306472929
- Pàgines 689
- Any Edició 2003
- Fecha de publicación 31/01/2003
- Idioma Alemany, Francès
Ressenyes i valoracions
Sigues la primera persona a valorar-lo!
Has llegit Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: Third Edition?
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: Third Edition (Alemany, Francès)
123,50€
130,00€
-5%
Enviament Gratuït
No disponible
123,50€
130,00€
-5%
Enviament Gratuït
No disponible
Devolució gratuïta
Gràcies per comprar a llibreries reals!
Prevenda 
Whatsapp
Facebook
Linkedin
X
