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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: Third Edition
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: Third Edition

Buch Details

In the decade since the publication of the second edition of Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis, there has been a great expansion in the capabilities of the basic scanning electron microscope (SEM) and the x-ray spectrometers.
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  • Schriftsteller Joseph Goldstein, Dale E. Newbury, David Joyce, Charles E. Lyman, Patrick Echlin, Eric Lifshin, Linda Sawyer, ALEX MALEEV/DAVID AJA/MICHAEL LARK/JAMIE
  • ISBN13 9780306472923
  • ISBN10 0306472929
  • Buchseiten 689
  • Jahr der Ausgabe 2003
  • Fecha de publicación 31/01/2003
  • Sprache Deutsch, Französisch
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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: Third Edition

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: Third Edition (Deutsch, Französisch)

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