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Buch Details
In the decade since the publication of the second edition of Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis, there has been a great expansion in the capabilities of the basic scanning electron microscope (SEM) and the x-ray spectrometers.
Lesen Sie mehr - Schriftsteller Joseph Goldstein, Dale E. Newbury, David Joyce, Charles E. Lyman, Patrick Echlin, Eric Lifshin, Linda Sawyer, ALEX MALEEV/DAVID AJA/MICHAEL LARK/JAMIE
- ISBN13 9780306472923
- ISBN10 0306472929
- Buchseiten 689
- Jahr der Ausgabe 2003
- Fecha de publicación 31/01/2003
- Sprache Deutsch, Französisch
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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: Third Edition (Deutsch, Französisch)
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