4.7
Historia 
Agenda 
Inicio 
Detalles del libro
In the decade since the publication of the second edition of Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis, there has been a great expansion in the capabilities of the basic scanning electron microscope (SEM) and the x-ray spectrometers.
Leer más - Autores Joseph Goldstein, Dale E. Newbury, David Joyce, Charles E. Lyman, Patrick Echlin, Eric Lifshin, Linda Sawyer, ALEX MALEEV/DAVID AJA/MICHAEL LARK/JAMIE
- ISBN13 9780306472923
- ISBN10 0306472929
- Páginas 689
- Año de Edición 2003
- Fecha de publicación 31/01/2003
- Idioma Alemán, Francés
Reseñas y valoraciones
¡Sé la primera persona en valorarlo!
¿Has leído Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: Third Edition?
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: Third Edition (Alemán, Francés)
123,50€
130,00€
-5%
Envío Gratis
No disponible
123,50€
130,00€
-5%
Envío Gratis
No disponible
Devolución gratis
¡Gracias por comprar en librerías reales!
Novedad 
Whatsapp
Facebook
Linkedin
X
