4.7
Història 
Agenda 
Inici 
Detalls del llibre
This text explores VLSI fault modelling and testing techniques and covers such topics as: physical fault modelling and simulation for VSLI MOS circuits; designing CMOS gates to test open faults; testing bridging faults in VLSI; and testable design synthesis models.
Llegir més - ISBN13 9780893917814
- ISBN10 0893917818
- Pàgines 200
- Any Edició 1993
- Fecha de publicación 01/05/1993
- Idioma Alemany, Francès
Ressenyes i valoracions
Sigues la primera persona a valorar-lo!
Has llegit VLSI Fault Modeling and Testing Techniques?
VLSI Fault Modeling and Testing Techniques (Alemany, Francès)
- De
- 9780893917814
74,10€
78,00€
-5%
Enviament Gratuït
No disponible
74,10€
78,00€
-5%
Enviament Gratuït
No disponible
Devolució gratuïta
Gràcies per comprar a llibreries reals!
Whatsapp
Facebook
Linkedin
X
