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Buch Details
This text explores VLSI fault modelling and testing techniques and covers such topics as: physical fault modelling and simulation for VSLI MOS circuits; designing CMOS gates to test open faults; testing bridging faults in VLSI; and testable design synthesis models.
Lesen Sie mehr - ISBN13 9780893917814
- ISBN10 0893917818
- Buchseiten 200
- Jahr der Ausgabe 1993
- Fecha de publicación 01/05/1993
- Sprache Deutsch, Französisch
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VLSI Fault Modeling and Testing Techniques (Deutsch, Französisch)
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- 9780893917814
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