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Buch Details
Ellipsometry is a powerful tool used for the characterization of thin films and multi-layer semiconductor structures. This book deals with fundamental principles and applications of spectroscopic ellipsometry (SE).
Lesen Sie mehr - ISBN13 9780470016084
- ISBN10 0470016086
- Buchseiten 392
- Jahr der Ausgabe 2007
- Fecha de publicación 26/01/2007
- Sprache Deutsch, Französisch
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Spectroscopic Ellipsometry: Principles and Applications (Deutsch, Französisch)
- Von
- |
- John Wiley (2007)
- 9780470016084
211,14€
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