Aberration-corrected Imaging In Transmission Electron Microscopy: An Introduction

Buch Details

Presents an introduction to practical aspects of atomic-resolution imaging in aberration-corrected electron microscopy. This book addresses advances in electron optical instrumentation used for ultra-high resolution imaging in materials and nano-science.

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ISBN13 9781848165366
ISBN10 1848165366
Buchseiten 348
Jahr der Ausgabe 2010
Fecha de publicación 01/09/2010
Sprache Deutsch, Französisch

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Aberration-corrected Imaging In Transmission Electron Microscopy: An Introduction (Deutsch, Französisch)

Name: Aberration-corrected Imaging In Transmission Electron Microscopy: An Introduction
Price: 95.09 EUR
Availability: OutOfStock
ISBN: 9781848165366