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Buch Details
This book explains concepts of transmission electron microscopy (TEM) and x-ray diffractometry (XRD) that are important for the characterization of materials.
Lesen Sie mehr - Schriftsteller Brent Fultz, Joi Ito Jeff Howe James Foster
- ISBN13 9783642297601
- ISBN10 3642297609
- Buchseiten 764
- Jahr der Ausgabe 2012
- Fecha de publicación 14/10/2012
- Sprache Deutsch, Französisch
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials (Deutsch, Französisch)
- Von
- Brent Fultz, Joi Ito Jeff Howe James Foster
- |
- SPRINGER (2012)
- 9783642297601
135,85€
143,00€
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